Võite olla kindel, et ostate meie tehasest E4991B impedantsianalüsaatorid. Takistuse analüsaator E4991B sagedusvahemikuga 1 MHz kuni 3 GHz, 0,65% põhitäpsus laias impedantsivahemikus, materjali mõõtmise võimalused temperatuuriomaduste analüüsiks ning läbilaskvuse ja läbilaskvuse otselugemise funktsioon.
Võite olla kindel, et ostate meie tehasest E4991B impedantsianalüsaatorid. E4991B impedantsianalüsaator 1 MHz – 3 GHz
Keysight E4991B impedantsianalüsaator on ideaalne lahendus elektrooniliste komponentide, pooljuhtseadmete ja materjalide iseloomustamiseks ja hindamiseks.
Kolm täiendatavat sagedusvalikut: 1 MHz kuni 500 MHz/1 GHz/3 GHz
Põhitäpsus ±0,65% ja 120 mΩ kuni 52 kΩ impedantsi vahemik (10% mõõtmistäpsuse vahemik)
Mõõtmisparameetrid: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (1. Valik 001 on nõutav)
Sisseehitatud alalisvoolu eelpinge (valik 001): 0 V kuni ±40 V, 0 A kuni ±100 mA
4-kanaliline ja 4-jälgiline puuteekraaniga 10,4-tolline värviline LCD-ekraan
Andmeanalüüsi funktsioon: samaväärne vooluringi analüüs, piirjoone test
Dielektrilise/magnetilise materjali mõõtmine (valik 002): |εr|, εr', εr", tanδ(ε), |μr|, μr', μr", tanδ(μ)
Temperatuuri karakteristikute mõõtmine (valik 007) ja usaldusväärsed on-plaadil mõõtmise võimalused (valik 010)
Materjali mõõtmise valikud pakuvad temperatuuri karakteristikute analüüsi (valik 007) ning läbilaskvuse ja läbilaskvuse otselugemise funktsiooni (valik 002).
Sondijaama ühenduskomplekt (valik 010) pakub täpset plaadil või mikrokomponentide impedantsi mõõtmise lahendust kuni 3 GHz.
E4991B toetab laias valikus testimise tarvikuid, mis on loodud mõõtmiste lihtsaks ja usaldusväärseks muutmiseks.
Olenemata sellest, kas tegelete teadus- ja arendustegevuse, kvaliteedikontrolli või kontrollimisega, on E4991B ideaalne lahendus elektrooniliste komponentide, pooljuhtseadmete ja materjalide iseloomustamiseks ja hindamiseks.
Materjalide mõõtmiseks töötab E4991B koos materjalide mõõtmise komplektiga N1500A-005 ja pakub mõõtmise lihtsust (kuni 1 GHz), alates seadmete seadistamisest kuni aruande genereerimiseni.
| Lisainfo: | RF IV, sobib täpseks impedantsi hindamiseks Ekvivalentahela analüüs (7 mudelit) Materjali mõõt. (opt. 002) Temperatuuri karakteristiku test (opt. 007) On-wafer impedantsi mõõt. sondijaamaga (opt. 010) 4 kanalit, 4 jälge |
| Põhitäpsus: | 0,65% |
| DC kallutatus: | 0 V kuni ±40 V, 0 A kuni ±100 mA (valik 001) |
| Sagedus: | 1 MHz kuni 500 MHz/1 GHz/3 GHz |
| Maksimaalne sagedus: | 3 GHz |
| Mõõtmine: | RF-IV meetod |
| Mõõtmisvahemik (täpsus < 10%): | 120 mΩ kuni 52 kΩ |
| Muud omadused: | Samaväärne vooluahela analüüs, piirjoone test jne. Dielektrilise/magnetilise materjali mõõtmine (valik 002), temperatuuri karakteristikute mõõtmine (valik 007), |
| Eriomadused: | n/a |
| Sihtkoht DUT: | Üldotstarbeline seade Materjal |
| Tüüp: | Impedantsi analüsaator |
